|
|
Предназначен: предназначен для структурных исследований кристаллической структуры веществ методом дифракции электронов в кристаллографии, металловедении, геологии, химии и других областях науки и техники. |
| Технические характеристики | |
|
Параметры |
ЭМР-110К электронограф регистрирующий с компьютерным управлением |
| Разрешающая способность Δd, nm при d=0,1 nm и L= 600 mm | 0,0002 |
| Дифракционный индекс | (7÷8)×10-5 |
| Ускоряющее напряжение, кВ | 25 … 100 |
| Угол отклонения дифракционной картины отклоняющей системой развертки, ° | ±7 |
| Нагрев держателя тонкого объекта, °С | до 900 |
| Длительность развертки дифракционной картины, s | 10 — 180 |
| Потребляемая мощность, кВА, не более | 4,0 |
| Габаритные размеры, мм, не более | 1350х1900х2000 |
| Общая масса электронографа, кг, не более | 1500 |