Предназначен: предназначен для структурных исследований кристаллической структуры веществ методом дифракции электронов в кристаллографии, металловедении, геологии, химии и других областях науки и техники. |
Технические характеристики | |
Параметры |
ЭМР-110К электронограф регистрирующий с компьютерным управлением |
Разрешающая способность Δd, nm при d=0,1 nm и L= 600 mm | 0,0002 |
Дифракционный индекс | (7÷8)×10-5 |
Ускоряющее напряжение, кВ | 25 … 100 |
Угол отклонения дифракционной картины отклоняющей системой развертки, ° | ±7 |
Нагрев держателя тонкого объекта, °С | до 900 |
Длительность развертки дифракционной картины, s | 10 — 180 |
Потребляемая мощность, кВА, не более | 4,0 |
Габаритные размеры, мм, не более | 1350х1900х2000 |
Общая масса электронографа, кг, не более | 1500 |